Definición de JTAG (Joint Test Action Group)
Joint Test Action Group (JTAG) es una norma empleada para testear puertos de acceso empleada para pruebas de circuitos impresos empleando escaneo de límites. Actualmente también se emplea para probar submódulos de circuitos integrados.
Su nombre estandarizado es el IEEE 1149.1 Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture (año 1990).
El JTAG se ha convertido en una herramienta esencial para los diseñadores de circuitos integrados y los ingenieros de pruebas ya que permite la detección temprana y rápida de errores en el circuito. Además de la prueba de circuitos, JTAG también es utilizado para la programación de dispositivos como microcontroladores y FPGA.
El proceso de prueba JTAG escanea todos los dispositivos interconectados en un circuito y permite la comunicación con ellos individualmente, lo que facilita la identificación de dispositivos defectuosos o errores en las conexiones entre ellos. Además, la arquitectura de escaneo de límites de JTAG permite el acceso a puntos específicos en la placa individualmente para órdenes de prueba personalizadas.
Además, el protocolo JTAG ha sido diseñado para ser extremadamente seguro, con controles de seguridad incorporados para evitar el acceso no autorizado o la manipulación malintencionada de dispositivos.
En resumen, JTAG es una herramienta indispensable para la detección temprana de errores en los circuitos integrados, y su arquitectura permite la comunicación individual con los dispositivos de la placa, lo que lo hace ideal para pruebas personalizadas.
Resumen: JTAG
JTAG es una norma para probar circuitos electrónicos utilizando un escaneo de límites. Se utiliza para probar los puertos de acceso y los submódulos de circuitos integrados. Su nombre oficial es IEEE 1149.1 Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture.
¿Qué dispositivos pueden ser probados a través de JTAG?
JTAG se puede utilizar para probar una amplia gama de dispositivos electrónicos, desde chips integrados hasta placas de circuito impreso y sistemas enteros.
La tecnología JTAG es una norma diseñada para realizar pruebas de circuitos integrados digitales. Utilizando una cadena de bypass denominada "tap", la tecnología JTAG permite controlar y monitorear chips y circuitos electrónicos. La norma JTAG es ampliamente utilizada en la industria de semiconductores como una herramienta para probar placas de circuito impreso y otros dispositivos electrónicos.
¿Qué tipo de fallas puede detectar JTAG?
JTAG puede detectar una variedad de fallas en los dispositivos electrónicos, incluyendo fallas de alimentación, fallas en las señales de entrada y salida, problemas de sincronización, fallas de lógica y problemas en la programación de dispositivos.
¿Cuáles son las principales ventajas de JTAG?
Las principales ventajas de JTAG son su capacidad para realizar pruebas automáticamente en circuitos electrónicos y su capacidad para realizar pruebas en placas de circuito impreso sin necesidad de acceder físicamente a los pines del chip.
¿Cómo se utiliza JTAG en el proceso de diseño de circuitos integrados?
JTAG se utiliza en el proceso de diseño de circuitos integrados para verificar el funcionamiento de los circuitos y detectar errores de diseño. Los diseñadores también utilizan JTAG para verificar la integridad de los datos almacenados en los registros internos de los chips.
¿Cuáles son las limitaciones de JTAG?
Las limitaciones de JTAG incluyen su ausencia de capacidad para probar circuitos analógicos, y dispositivos que no cuentan con una cadena de bypass JTAG no pueden ser probados.
¿Cómo se está utilizando JTAG en la actualidad?
Actualmente, JTAG se utiliza en una amplia variedad de aplicaciones, desde la prueba de dispositivos médicos y electrónicos de consumo hasta la prueba de sistemas aeronáuticos y aviones no tripulados. Los dispositivos IoT (Internet de las cosas) también están utilizando la tecnología JTAG para verificar el funcionamiento correcto de los dispositivos. En resumen, JTAG sigue siendo una tecnología crítica en la industria electrónica para realizar pruebas en el proceso de diseño y fabricación de circuitos integrados y asegurar su correcto funcionamiento.
Autor: Leandro Alegsa
Actualizado: 11-06-2023
¿Cómo citar este artículo?
Alegsa, Leandro. (2023). Definición de JTAG. Recuperado de https://www.alegsa.com.ar/Dic/jtag.php
